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| 編輯推薦： |
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国内首本关于高速数字接口原理和测试的原创图书，由原安捷伦（Agilent）公司电子测量事业部的高速数字测试领域专家执笔，获得业内多位专家大力推荐，配有大量精美插图
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| 內容簡介： |
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本书结合作者多年从事高速数字设计和测试的经验，对高速数字信号的基本概念、测试原理进行讲解，同时结合现代计算机、移动设备、有线通信、航天设备里最新的高速数字接口，对其关键技术、测试方法等做详细介绍和总结，以便于读者理解和掌握高速数字接口的基本原理、实现技术、测试理念以及其发展趋势。本书主要分为两个部分： 上半部分是高速数字信号的基本概念和测量原理； 下半部分是常用高速数字接口总线的技术特点和测试方法。本书可供从事计算机、移动终端、有线通信、航空航天设备开发的工程人员了解学习高速数字总线的相关技术，也可供高校工科电子类的师生做数字电路、信号完整性方面的教学参考。
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| 關於作者： |
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李凯，毕业于北京理工大学光电工程系，硕士学位，曾在国内知名通信公司从事多年硬件研究。2006年加入安捷伦公司，负责高端示波器、逻辑分析仪、信号完整性分析等高速数字测试产品的应用和研究。对于通信、计算机等行业有深入认知，对信号完整性、嵌入式系统、高速总线、可编程逻辑、时钟、电源等电路的设计和测试有深刻理解。作为高速数字测试领域的专家，李凯利用业余时间撰写了大量关于高速信号测量原理、测量方法的文章并发布在《国外电子测量技术》、《电子工程专辑》等专业杂志以及IEEE ICCP、EDI CON等专业论坛大会上，同时在EDN China网站开设有个人技术博客。
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| 目錄：
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上部 高速数字信号测量原理
第1章 无处不在的数字接口
第2章 数字信号基础
2.1 什么是数字信号Digital Signal
2.2 数字信号的上升时间Rising Time
2.3 数字信号的带宽Bandwidth
2.4 数字信号的建立保持时间SetupHold Time
2.5 并行总线与串行总线Parallel and Serial Bus
2.6 单端信号与差分信号Single-ended and Differential Signals
2.7 数字信号的时钟分配Clock Distribution
2.8 串行总线的8b10b编码8b10b Encoding
2.9 伪随机码型PRBS
2.10 传输线对数字信号的影响Transmission Line Effects
2.11 数字信号的预加重Pre-emphasis
2.12 数字信号的均衡Equalization
2.13 数字信号的抖动Jitter
2.14 扩频时钟SSC
第3章 数字测试基础
3.1 数字信号的波形分析Waveform Analysis
3.2 数字信号的眼图分析Eye Diagram Analysis
3.3 眼图的参数测量Eye Diagram Measurement
3.4 眼图的模板测试Mask Test
3.5 数字信号抖动的成因Root Cause of Jitter
3.6 数字信号的抖动分解Jitter Seperation
3.7 串行数据的时钟恢复Clock Recovery
3.8 示波器的抖动测量能力Jitter Measurement Floor of Scope
3.9 相位噪声测量Phase Noise Measurement
3.10 传输线的特征阻抗Characteristic Impedance
3.11 特征阻抗的TDR测试Time Domain Reflectometer
3.12 传输线的建模分析Transmission Line Modelling
第4章 实时示波器原理
4.1 模拟示波器Analog Oscilloscope
4.2 数字存储示波器Digital Storage Oscilloscope
4.3 示波器的带宽Bandwidth
4.4 示波器的频响方式Frequency Response
4.5 示波器带宽对测量的影响Bandwidth Impact
4.6 示波器的带宽增强技术Bandwidth Enhancement Technology
4.7 示波器的频带交织技术Bandwidth Interleaving Technology
4.8 示波器的采样技术Sampling Technology
4.9 示波器的分辨率Vertical Resolution
4.10 示波器的直流电压测量精度DC Voltage Accuracy
4.11 示波器的时间测量精度Delta-Time Accuracy
4.12 示波器的等效位数ENOB
4.13 示波器的高分辨率模式High Resolution
4.14 示波器的内存深度Memory Depth
4.15 示波器的死区时间Dead Time
4.16 示波器的显示模式Display Mode
4.17 示波器的触发Trigger
4.18 示波器的触发条件Trigger Conditions
4.19 示波器的触发模式Trigger Mode
4.20 示波器的测量速度Measurement update rate
附录 Agilent 公司90000X系列高端示波器原理
第5章 示波器探头原理
5.1 高阻无源探头High Impedance Passive Probe
5.2 无源探头的常用附件Passive Probe Accessories
5.3 低阻无源探头Low Impedance Passive Probe
5.4 有源探头Active Probe
5.5 差分探头Differential Probe
5.6 电流探头Current Probe
5.7 高灵敏度探头High-sensitivity Probe
5.8 探头连接前端对测量的影响Probe Head
5.9 探头衰减比对测量的影响Probe Attenuation Ratio
5.10 探头的校准方法Probe Calibration
第6章 其他常用数字测量仪器
6.1 采样示波器Sampling Oscilloscope
6.2 矢量网络分析仪与TDRVNA and TDR
6.3 逻辑分析仪Logic Analyzer
6.4 协议分析仪Protocol Analyzer
6.5 误码分析仪Bit Error Ratio Tester
附录1 Agilent公司U4154A逻辑分析仪简介
附录2 示波器协议解码功能和协议分析仪的区别
第7章 常用测量技巧
7.1 电源纹波噪声测试方法
7.2 时间间隔测量
7.3 如何用示波器进行ps级时间精度的测量
7.4 怎样测量PLL电路的锁定时间
7.5 T型头和功分器的区别
7.6 如何克服测试电缆对高频测量的影响
第8章 用多台仪器搭建自动测试系统
8.1 自动化测试系统
8.2 LXI测试系统的硬件平台
8.3 LXI测试系统的软件架构
8.4 LXI测试系统的优点
8.5 LXI测试系统的兼容性问题
8.6 LXI测试系统的时钟同步
8.7 LXI测试系统的网络安全性
下部 高速数字接口及测试方法
第9章 PCI-E简介及信号和协议测试方法
9.1 PCI-E总线简介
9.2 PCI-E 协会简介
9.3 PCI-E信号质量测试
9.4 PCI-E协议调试和测试
9.5 PCI-E测试总结和常见问题
第10章 PCI-E 3.0简介及信号和协议测试方法
10.1 PCI-E 3.0数据速率的变化
10.2 PCI-E 3.0发送端的变化
10.3 PCI-E 3.0接收端的变化
10.4 PCI-E 3.0信号质量测试
10.5 PCI-E 3.0接收端容限测试
10.6 PCI-E 3.0协议的测试
10.7 PCI-E 3.0测试总结及常见问题
第11章 SATA简介及信号和协议测试方法
11.1 SATA总线简介
11.2 SATA协会简介
11.3 SATA发送信号质量测试
11.4 SATA接收容限测试
11.5 SATA协议层测试和调试
11.6 SATA测试总结及常见问题
第12章 Ethernet简介及信号测试方法
12.1 以太网技术简介
12.2 10Base-T以太网测试项目
12.3 100Base-Tx以太网测试项目
12.4 1000Base-T以太网测试项目
12.5 10M100M1000M以太网的测试
12.6 10GBase-T的测试项目及测试
12.7 XAUI和10GBase-CX4测试方法
12.8 SFP+10GBase-KR接口及测试方法
12.9 100G以太网标准及测试方法
12.10 100G及更高速率相干光通信测试方法
12.11 以太网测试总结及常见问题
第13章 MIPI D-PHY简介及信号和协议测试方法
13.1 MIPI 简介
13.2 MIPI D-PHY简介
13.3 MIPI D-PHY信号质量测试
13.4 MIPI D-PHY的接收端容限测试
13.5 MIPI CSIDSI的协议测试
13.6 MIPI D-PHY测试总结及常见问题
第14章 MIPI M-PHY简介及信号和协议测试方法
14.1 MIPI M-PHY简介
14.2 MIPI M-PHY的信号质量测试
14.3 MIPI M-PHY的协议解码
14.4 DigRF简介
14.5 DigRF物理层测试
14.6 DigRF协议层测试
14.7 MIPI M-PHY测试总结及常见问题
第15章 存储器简介及信号和协议测试
15.1 存储器简介
15.2 DDR简介
15.3 DDR信号的读写分离
15.4 DDR的信号探测技术
15.5 DDR的信号测试
15.6 DDR的协议测试
15.7 eMMC简介及测试
15.8 SD卡UHS简介及测试
15.9 存储器测试总结及常见问题
第16章 USB 2.0简介及信号和协议测试
16.1 USB 2.0简介
16.2 USB 2.0的信号质量测试方法
16.3 USB 2.0信号质量测试中的测试模式设置
16.4 USB 2.0协议层调试方法
16.5 USB测试总结及常见问题
第17章 USB 3.0简介及信号和协议测试
17.1 USB 3.0简介
17.2 USB 3.0的发送端信号质量测试
17.3 USB 3.0信号质量测试中的测试码型和LFPS信号
17.4 USB 3.0的接收容限测试
17.5 USB 3.0的电缆、连接器测试
17.6 USB 3.0的协议测试
17.7 USB 3.0测试总结及常见问题
第18章 HDMI 简介及信号和协议测试
18.1 数字显示接口
18.2 HDMI 简介
18.3 HDMI 发送信号质量测试
18.4 HDMI 电缆和连接器的测试
18.5 HDMI 接收容限测试
18.6 HDMI 的协议层测试
18.7 HDMI 1.4 HEAC的测试
18.8 HDMI 测试总结及常见问题
第19章 MHL简介及信号和协议测试
19.1 MHL简介
19.2 MHL发送信号质量测试
19.3 MHL接收容限测试
19.4 MHL的协议测试
19.5 MHL测试总结及常见问题
第20章 DisplayPort简介及信号测试
20.1 DisplayPort简介
20.2 DisplayPort发送信号质量测试
20.3 DisplayPort接收容限测试
20.4 DisplayPort电缆和连接器测试
20.5 MYDP简介及测试
20.6 DisplayPort测试总结及常见问题
第21章 LVDS传输系统简介及测试
21.1 LVDS简介
21.2 LVDS的数字逻辑测试
21.3 LVDS信号质量测试
21.4 LVDS 互连电缆和PCB的阻抗测试
21.5 LVDS 系统误码率测试
21.6 LVDS测试总结
第22章 MIL-STD-1553B简介及测试
22.1 1553总线简介
22.2 1553总线的触发和解码
22.3 1553总线的测试
22.4 1553总线的未来
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