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| 內容簡介： |
本书主要包括材料X射线衍射分析和材料电子显微分析两大部分内容。书中介绍了用X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。其内容包括：X射线物理学基础、X射线的衍射基础、多晶物相分析、应力测量与分析、多晶体织构测量、三维X射线显微镜、电子光学及电子显微学基础、透射电子显微镜的结构与工作原理、电子衍射和衍衬成像分析、高分辨透射电子显微术、分析透射电子显微术、扫描电子显微镜和电子探针、电子背散射衍射分析技术和其他显微分析方法以及实验指导。书中的实例分析着重引入了材料微观组织结构分析方面的新成果。
本书可以作为材料科学与工程学科的本科生和研究生教材或教学参考书，也可供材料成型及控制工程等其他专业师生和从事材料研究及分析检测方面工作的技术人员学习参考。
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| 目錄：
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目 录
第4版前言
第3版前言
第2版前言
第1版前言
绪论1
第一篇材料X射线衍射分析3
第一章X射线物理学基础5
第一节X射线的基本性质5
第二节X射线的产生及X射线谱7
第三节X射线与物质的相互作用11
习题17
第二章X射线的衍射基础18
第一节几何晶体学简介18
第二节X射线晶体衍射原理23
第三节布拉格定律的相关讨论25
第四节倒易空间的衍射方程式及
埃瓦尔德图解27
第五节多晶体衍射花样的形成30
第六节原子散射因子和几何结构因子31
第七节洛伦兹因子35
第八节衍射强度的其他影响因素与
积分强度公式37
习题39
第三章多晶物相分析41
第一节照相法41
第二节衍射仪法43
第三节定性物相分析50
第四节定量物相分析54
第五节点阵参数测定60
习题67
第四章应力测量与分析68
第一节测量原理68
第二节测量方法72
第三节数据处理方法76
第四节三维应力及薄膜应力测量80
习题82
第五章多晶体织构测量83
第一节织构分类83
第二节极图及其测量83
第三节反极图及其测量88
第四节三维取向分布函数89
习题90
第六章三维X射线显微镜92
第一节三维X射线显微镜的结构92
第二节X射线计算机断层成像97
第三节X射线衍射衬度断层成像106
第四节三维X射线显微镜在材料学
研究中的应用110
习题116
第二篇材料电子显微分析117
第七章电子光学及电子显微学
基础119
第一节电子波与电磁波119
第二节电磁透镜的像差与分辨率122
第三节电磁透镜的景深和焦长125
第四节电子束与固体样品作用时
产生的信号126
习题128
第八章透射电子显微镜的结构与
工作原理129
第一节透射电子显微镜的结构与
成像原理129
第二节主要部件的结构与工作原理134
第三节透射电子显微镜分辨率和放大
倍数的测定139
习题141
第九章电子衍射和衍衬成像分析142
第一节概述142
第二节电子衍射原理143
第三节电子显微镜中的电子衍射152
第四节单晶体电子衍射花样标定155
第五节复杂电子衍射花样158
第六节薄膜样品的制备方法160
第七节薄晶体衍射衬度成像原理163
第八节衍射运动学理论165
第九节衍衬动力学简介173
第十节晶体缺陷分析176
习题184
第十章高分辨透射电子显微术185
第一节高分辨透射电子显微镜的
结构特征185
第二节高分辨电子显微像的原理186
第三节高分辨透射电子显微术在材料
科学中的应用195
第四节高分辨透射电子显微术应用
实例详解202
习题211
材料分析方法第4版目录第十一章分析透射电子显微术212
第一节电子与物质的相互作用212
第二节扫描透射电子显微术214
第三节原子分辨率EDS218
第四节电子能量损失谱及能量
过滤成像222
习题230
第十二章扫描电子显微镜和电子
探针231
第一节扫描电子显微镜的系统结构与
工作原理231
第二节环境扫描电子显微镜的工作
原理及应用233
第三节扫描电子显微镜的主要性能235
第四节表面形貌衬度原理及其应用237
第五节原子序数衬度原理及其应用242
第六节电子探针仪的结构与工作原理244
第七节电子探针仪的分析方法及应用248
习题250
第十三章电子背散射衍射分析
技术252
第一节概述252
第二节电子背散射衍射技术相关
晶体学取向基础252
第三节电子背散射衍射技术硬件系统262
第四节电子背散射衍射技术原理及
花样标定264
第五节电子背散射衍射技术成像
及分析268
第六节电子背散射衍射技术数据处理272
习题277
第十四章其他显微分析方法278
第一节离子探针显微分析278
第二节低能电子衍射分析280
第三节俄歇电子能谱分析284
第四节场离子显微镜与原子探针289
第五节扫描隧道显微镜与原子力
显微镜295
第六节X射线光电子能谱分析300
第七节红外光谱303
第八节激光拉曼光谱311
第九节紫外可见吸收光谱314
第十节原子发射光谱319
第十一节原子吸收光谱322
第十二节核磁共振326
习题331
实验指导332
实验一用X射线衍射仪进行多晶体
物质的相分析332
实验二宏观残余应力的测定335
实验三金属板织构的测定339
实验四透射电子显微镜结构原理及
明暗场成像342
实验五选区电子衍射与晶体取向分析345
实验六扫描电子显微镜的结构原理及
图像衬度观察350
实验七电子背散射衍射技术的工作原理与
菊池花样观察及标定354
实验八电子背散射衍射技术的数据
处理及其分析应用357
实验九电子探针结构原理及分析方法360
附录363
附录A物理常数363
附录B质量吸收系数μlρ363
附录C原子散射因子f364
附录D各种点阵的结构因子F2HKL365
附录E粉末法的多重性因数Phkl365
附录F角因数1+cos22θsin2θcosθ366
附录G德拜函数（x）x+14之值368
附录H某些物质的特征温度Θ368
附录I12cos2θsinθ+cos2θθ的数值369
附录J应力测定常数371
附录K立方系晶面间夹角372
附录L常见晶体标准电子衍射花样375
附录M立方与六方晶体可能出现的
反射379
附录N特征X射线的波长和能量表380
参考文献382
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| 內容試閱：
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本书第1版被列入普通高等教育“十五”国家级规划教材，曾获2002年全国普通高等学校优秀教材一等奖；2009年入选普通高等教育“十一五”国家级规划教材，2010年出版第2版，被评定为“面向21世纪课程教材”；2011年出版第3版，2014年入选“十二五”普通高等教育本科国家级规划教材。本书是在第3版的基础上进行修订的，修改了部分内容，并增加了一部分新内容。
本书第3版主要包括材料X射线衍射分析和材料电子显微分析两大部分内容。本次修订仍然以这两部分内容为主，将“X射线衍射方向”和“X射线衍射强度”两章合并为“X射线的衍射基础”一章；将“多晶体分析方法”和“物相分析及点阵参数精确测定”两章合并为“多晶物相分析”一章；将“电子衍射”和“晶体薄膜衍衬成像分析”两章合并为“电子衍射和衍衬成像分析”一章；将“扫描电子显微镜”和“电子探针显微分析”两章合并为一章，增加了“三维X射线显微镜”和“分析透射电子显微术”两章，并对其他章节的部分内容及图片进行了适当的修改和补充。
本书从内容上力求简明扼要，从分析仪器的结构和工作原理出发，介绍分析方法的原理和适用范围，针对具体分析实例并与实践教学相结合，注重培养学生利用现代分析方法解决实际问题的能力。书中一些实例是编者亲身科研工作的成果，部分照片是编者亲自利用电子显微镜拍摄的。“材料分析方法”是材料、冶金学科必修的公共技术基础课之一，也是机械学科中材料成型及控制工程专业的技术基础课之一，还可作为物理、化学、生物、生命科学、精密加工与特种加工及新兴交叉学科的纳米技术等学科专业选修课之一。因此，本书在诸多学科专业有着广泛的使用。
科学技术的飞速发展对材料的分析手段不断提出新的要求，新的分析方法随之不断涌现。由于目前我国高校教学参考书的种类与发达国家相比尚不够多，因此本书在第3版的基础上增加了一些新内容后，其总学时数多于本课程的学时数，并附有实验指导，以供学生自学参考和不同学校或学科专业选择。
本次修订，第一、二章由哈尔滨工业大学崔喜平编写，第三、四、五章及实验一、实验二和实验三由上海交通大学姜传海编写，第六、十一章由哈尔滨工业大学徐超编写，第七、八、九、十二（第一节，第三至七节）、十四（第一至六节）章及附录由哈尔滨工业大学周玉编写，第十章由哈尔滨工业大学饶建存编写，第十二（第二节）、十三、十四（第七至十二节）章及实验四至九由哈尔滨工业大学魏大庆编写。全书由周玉统稿并担任主编，由天津大学刘文西教授、哈尔滨工业大学孟庆昌教授担任主审。
由于编者水平有限，加之时间仓促，书中若有不当之处，敬请读者批评指正。
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